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英國KP開爾文探針在納米材料表面性能表征中的進展
英國KP開爾文探針在納米材料表面性能表征中的進展 2025-01-02

英國KP開爾文探針是一種無損的表面電學性能測量工具,廣泛應(yīng)用于材料科學、表面物理和納米技術(shù)領(lǐng)域。尤其是在納米材料的表面性能表征中,KP技術(shù)因其高空間分辨率和非接觸性,逐漸成為一種重要的表面電勢(工作函數(shù))測量方法。英國KP開爾文探針原理及特點開爾文探針技術(shù)的基本原理是利用探針和樣...

  • 飛行時間二次離子質(zhì)譜具有高分辨率的測量技術(shù) 2019-06-23

    飛行時間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),通過用一次離子激發(fā)樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質(zhì)量,具有高分辨率的測量技術(shù)。飛行時間二次離子質(zhì)譜可以廣泛應(yīng)用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面,可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素、分子等結(jié)構(gòu)信息,其特點在二次離子來自表面單個原子層分子層(1nm以內(nèi)),僅帶出表面的化學信息,具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點,廣泛應(yīng)用于物...

  • 深能級瞬態(tài)譜儀行業(yè)加快技術(shù)更新步伐 2019-05-27

    深能級瞬態(tài)譜儀集成多種自動的測量模式及全面的數(shù)據(jù)分析,可以確定雜質(zhì)的類型、含量以及隨深度的分布,也可用于光伏太陽能電池領(lǐng)域中,分析少子壽命和轉(zhuǎn)化效率衰減的關(guān)鍵性雜質(zhì)元素和雜質(zhì)元素的晶格占位,確定是何種摻雜元素和何種元素占位影響少子壽命。該儀器測量界面態(tài)速度快,精度高,是生產(chǎn)和科研中可廣為應(yīng)用的測試技術(shù)。隨著電腦技術(shù)的發(fā)展,使得在短時間內(nèi)進行復雜計算成為可能,在純指數(shù)發(fā)射過程模型的基礎(chǔ)上,用各種數(shù)學模型分析測量到的瞬態(tài)過程,如傅里葉轉(zhuǎn)換、拉普拉斯轉(zhuǎn)換、多指數(shù)瞬態(tài)擬合、等溫瞬態(tài)光...

  • 快速動力學停流裝置的流量控制 2019-05-07

    快速動力學停流裝置是當今市場上好的多路混合停流裝置,淬滅裝置,快速混合溫度突變等裝置系統(tǒng),杰出的產(chǎn)品設(shè)計解決您快速動力學應(yīng)用中的所有需要??焖賱恿W停流裝置節(jié)省樣品,自動濃度依賴性實驗研究以及兩路混合實驗研究,適用所有光學模式:吸收,熒光,圓二色,熒光各向異性光譜等測定比色池多樣性。快速動力學停流裝置的流量控制,可擴展溫度適用范圍,可更換SFM附件,應(yīng)用于:化學淬滅,光學淬滅以及光學延時,冷凍淬滅,X-射線散射停流,中子色散停流,EPR停流,低溫停流,自動滴定,停流電導,快速...

  • 皮可安培計的核心優(yōu)勢及產(chǎn)品特點 2019-04-24

    皮可安培計的核心優(yōu)勢及產(chǎn)品特點皮可安培計的測試需要把測試電壓或強制電壓施加到器件的輸入端,并測量導致的任何泄漏電流和偏移電流,這經(jīng)常是在1pA或更低的級別進行的,使器件測試吞吐速度達到很高。表面貼裝元件的廣泛使用使它的印制電路板空間要求降到了低,并使多個測量電路的封裝能靠近測試夾具,可選帶上下限報警控制功能,用軸承支持活動部分的儀表,不可避免地會存在摩擦而產(chǎn)生的摩擦力矩,它會在不同程度上阻礙活動部分的運動,使活動部分停在偏離真實平衡位置的地方,致使儀表指示產(chǎn)生誤差。皮可安培計...

  • 表面光電壓譜保證良好的波長準確度和重復性 2019-04-10

    表面光電壓譜保證良好的波長準確度和重復性表面光電壓譜一體整合,空間更緊湊,操作更簡便;高精度,自動化,數(shù)字化,讓實驗數(shù)據(jù)更準確;高均勻可調(diào)節(jié)光纖光源,特別為光電極輻照設(shè)計。半導體材料的光生電壓性能的測試分析,可開展光催化等方面的機理研究,應(yīng)用于太陽能電池、光解水制氫等方面的研究,研究光生電荷的性質(zhì),如:光生電荷擴散方向;解析光生電荷屬性等。表面光電壓譜模組化設(shè)計,緊扣用戶需求,經(jīng)濟靈活,適用面廣,升級、改造、維護均很方便,可選大功率鹵鎢燈及大功率氙燈光源,也可使用用戶已有或的...

  • 氣溶膠粒徑譜儀粉塵發(fā)生器在質(zhì)量控制中有著廣泛應(yīng)用 2019-03-26

    氣溶膠粒徑譜儀粉塵發(fā)生器在質(zhì)量控制中有著廣泛應(yīng)用氣溶膠粒徑譜儀粉塵發(fā)生器基于單一顆粒的光散射的原理測量顆粒粒徑分布,而無需假設(shè)特定分布,例如對數(shù)正態(tài)粒徑分布,該方法將高敏感性、高準確性和高速測量結(jié)合起來,并實現(xiàn)對高濃度氣溶膠顆粒的粒徑分布的測量。氣溶膠粒徑譜儀粉塵發(fā)生器采用近前向散射技術(shù),使得顆粒形狀和折射率對測量結(jié)果的影響降至低,并專為高濃度氣溶膠顆粒的測量進行了設(shè)計,技術(shù)上的解決解決方案就是通過空氣動力學及光學聚焦產(chǎn)生一個足夠小的測量體積,小的測量體積能夠有效降低重疊誤差...

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