超高真空開爾文探針-材料表征

開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測試系統(tǒng)。
UHV-KP020 是超高真空室的一個*補充工具，可靠的和可重復(fù)的可輕松獲得，包括高質(zhì)量的線性解碼器，使得探針和樣品的定位變得簡單， 的跟蹤系統(tǒng)在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對于薄膜研究，亞單層范圍檢測是很平常的；也可選購SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。

超高真空開爾文探針-材料表征

技術(shù)參數(shù)：
● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探針）
● 用戶自定針尺寸（2-10mm）
● 用戶自定探針長度（法蘭到樣品）
● DN40（2.75''安裝端口）-其他可選
● 50mm手動平移器（100mm可選）
● 真空度2X10-11mbar
● 跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離
● 過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容
選件：
● 電動平移器
● UHVSKP
● UHVSKP
● 表面光電壓模塊SPV020和SPS030

我司在華南理工大學(xué)完成的UHVSKP超高真空開爾文探針已經(jīng)順利通過該校驗收。各項性能均達到設(shè)計需求。