簡(jiǎn)要描述:KP Technology掃描開爾文探針-材料表征非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì),表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | DIATEST/德國(guó) | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì),表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
主要特點(diǎn):
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積:5mm to 300mm(四種型號(hào),每種型號(hào)掃描面積不同)
● 掃描分辨率:317.5nm
● 自動(dòng)高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域:
● 有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽(yáng)能電池和有機(jī)光伏材料
● 腐蝕
升級(jí)附件:
● 大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
● 相對(duì)濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境箱
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